放射性表面污染定量測量
放射性表面污染定量測量是通過探測α/β粒子數(shù)，測量物體表面放射性污染水平的快速測量方法。該方法用于測量核與輻射設(shè)施正常運行時工作場所及人員放射性沾污水平，也用于測量事故區(qū)域的污染水平。
按照*輻射安全管理規(guī)定，在易發(fā)生放射性污染的場所，應(yīng)對其地面、設(shè)備表面等進(jìn)行常規(guī)污染監(jiān)測；另外，還應(yīng)在更衣室和工作區(qū)出口處對工作人員體表進(jìn)行污染監(jiān)測，防止污染擴散。一般可采用污染監(jiān)測儀進(jìn)行直接表面污染測量。必要時，還可采用擦拭法等進(jìn)行間接測量。
20世紀(jì)50年代末,我國油田開始應(yīng)用放射性同位素進(jìn)行示蹤測井。我國油田廣泛使用放射性同位素~(131)Ba微球作為示蹤載體進(jìn)行示蹤測井，在油田使用非密封型放射源測井實踐過程中，應(yīng)依據(jù)GB 11930-2010 《操作非密封源的輻射防護(hù)規(guī)定》中4. 1. 2c 條規(guī)定，按照*標(biāo)準(zhǔn)、防護(hù)與安全*優(yōu)化原則,控制工作場所各操作區(qū)的輻射水平和表面污染程度，同時依照GBZ 118-2002 《油(氣)田非密封型放射源測井衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》條7防護(hù)監(jiān)測等進(jìn)行放射性表面污染監(jiān)測。但在對使用~(131)Ba 微球示蹤測井的工作場所實際監(jiān)測表面污染過程中，常因缺乏對核素基本性質(zhì)的了解，存在使用 alpha、beta 表面沾污儀來測量~(131)Ba 工作場所的表面污染等不科學(xué)的現(xiàn)狀。
在放射性實踐工作中，用 α、β 表面沾污儀（以下簡稱沾污儀）監(jiān)測放射性表面污染，其目的是及時采取有效措施，使工作人員不受到高于本底的附加劑量，特別是避免造成內(nèi)照射。 而采用表面沾污儀測量某放射性核素的表面污染水平時，該核素必須滿足如下兩個條件：①發(fā)射 α 射線（ 粒子），發(fā)射 β 射線（粒子），這些射線是從核內(nèi)發(fā)出的。 ②*大 β 能量大于0.15MeV,這是GB/T14056. 1-2008《表面污染測量*部分：*部分：β發(fā)射體（Eβmax>0.15MeV）和α發(fā)射體》的要求。
在實踐中，常有使用沾污儀來進(jìn)行測量131Ba的情況，而由131Ba和其衰變子體133Ba均不發(fā)射 β 射線，α、β 表面沾污儀測不到 β 射線，這*是前面所提到的誤區(qū)產(chǎn)生原因。
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自1993年以來是輻射防護(hù)和核測量技術(shù)的合作伙伴。NUVIA Instruments GmbH由Heinz Kirsch和GünterWerthmann于1993年成立，當(dāng)時是SEA GmbH輻射防護(hù)，開發(fā)和設(shè)備公司，位于明斯特附近的杜爾門。兩位創(chuàng)始人都為新公司帶來了在輻射防護(hù)和核測量技術(shù)方面的多年經(jīng)驗。
NUVIA Instruments GmbH開發(fā)和制造這些測量設(shè)備，用于輻射防護(hù)的各種常規(guī)和特殊任務(wù)。我們的目標(biāo)是始終通過創(chuàng)新的測量技術(shù)為您提供合適的解決方案。
獲得成功NUVIA Instruments GmbH開發(fā)和制造的污染監(jiān)測儀的基礎(chǔ)以及成功因素是薄層塑料閃爍體的創(chuàng)新檢測器技術(shù)-一種無氣檢測器系統(tǒng)COMO170。在療領(lǐng)域，移動式表面污染監(jiān)測儀還用于檢查過程中的功能，例如使用Technegas發(fā)生器進(jìn)行的肺閃爍顯像。
COMO170帶有塑料閃爍檢測器的移動式表面污染監(jiān)測儀被用于測量和控制α-和β-/γ污染，這是常規(guī)操作輻射防護(hù)的一部分。探測器面積為170cm2。帶ZnS涂層的薄層塑料閃爍探測器，帶有聚脂薄膜和蜂窩網(wǎng)格。
使用開放的放射性物質(zhì)會導(dǎo)致人員和表面污染。因此，輻射防護(hù)條例要求，例如，如果您離開受控區(qū)，檢查是否存在表面污染物并確定核素相關(guān)極限值。直接和間接的污染測量（通過涂抹測試樣品），均可使用CoMo170移動式表面污染監(jiān)測儀。
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污染監(jiān)測儀COMO170由SEA GmbH開發(fā)，并由NUVIA批量生產(chǎn)?，F(xiàn)在，我們有超過6,000個與客戶一起使用的CoMo系統(tǒng)。
